RU 
EN 
CN 
ES 
Архипов Алексей Владимирович
- Кафедра наноинженерии, н/Д
- Кафедра геоинформатики и информационной безопасности, доцент
Учёные степени и звания
- 2001 Присвоено учёное звание "Доцент"
- 1996 Присуждена учёная степень "Кандидат технических наук"
Образование
- 2022 Повышение квалификации: Самарский университет, Навыки оказания первой помощи
- 2021 Повышение квалификации: Самарский университет, Электронная информационно-образовательная среда университета
- 2018 Повышение квалификации: Самарский университет, "Навыки оказания первой помощи"
- 2018 Повышение квалификации: Самарский университет, Электронная информационно-образовательная среда университета
- 2018 Повышение квалификации: Самарский университет, "Инклюзивное профессиональное образование"
- 2018 Профессиональная переподготовка: Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П.Королева, По программе "Электротехника и наноэлектроника"
- 2018 Повышение квалификации: Самарский университет, Методы и техники работы на спектрофотометре UV-2450 и ИК-Фурье спектрометре IRPrestige-21 фирмы "Shimadzu"
- 2010 Повышение квалификации: СГАУ
- 1991 - 1995 Аспирантура: ФГАОУ ВО "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)"
- 1982 - 1988 Высшее: Куйбышевский авиационный институт им. академика С.П. Королева, факультет Радиотехнический
- 2022 Повышение квалификации: Самарский университет, Инклюзивное профессиональное образование
ВАК
2010
- 1 ТУКМАКОВ К.Н., АРХИПОВ А.В. Модеь электродиффузионных процессов в тонких металлических пленках // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета имени академика С.П. Королева (национального исследовательского университета). — 2010. — № №1 (21). — С. 185-194
Другие
2012
- 1 АРХИПОВ А.В., Архипов А.А, Стенд для исследования электромиграции в паяных контактах печатных узлов РЭС // VIII Международная научно-практическая конференция «Дни науки – 2012». — 2012. — С. 85-87
- 2 АРХИПОВ А.В., Идкаев Р.И. Анализ физических причин дефектов печатных узлов, собранных по технологии поверхностного монтажа // VIII Международная научно-практическая конференция «Дни науки – 2012»,. — 2012. — С. 80-82
2011
- 1 АРХИПОВ А.В., ПИГАНОВ М.Н., ТЮЛЕВИН С.В. и др. ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА МИКРОСХЕМ СЕРИИ 765 // Х1Х ВСЕРОССИЙСКАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО НЕРАЗРУШАЮЩЕМУ КОНТРОЛЮ И ТЕХНИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКЕ. — 2011. — С. 450-452
| Название | Авторы | Год | Вид публикации | Гриф | Издательство | Страницы |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Лабораторный практикум по материалам электронных средств | 2012 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Корреляционный анализ технологических параметров | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 9 |
| Контроль электрических параметров | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 8 |
| Контроль качества пайки монтажных соединений | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 7 |
| Технологичность конструкций электронных модулей | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 10 |
| Однофакторный дисперсионный анализ технологических процессов | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 8 |
| Выборочный контроль качества продукции | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 10 |
| Исследование работы автомата для настройки колебательных контуров | Березков Б.Н. | 2014 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 8 |
| Исследование и анализ качества паяных соединений электронных узлов | 2014 | Методические указания | Редсовет университета | Самара: изд-во Самар. гос. аэрокосм. ун-та | 0 | |
| Изучение диэлектрических потерь в слоистых органических электроизоляционных материалах | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение потерь в высокочастотных магнитных катушках с ферритовым кольцевым сердечником | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение электропроводности объемного образца полупроводника | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| изучение электропроводности диэлектрических материалов печатных плат | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение электропроводности объемного медного проводника | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение явления гистерезиса ферромагнетика | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение явления сегнетоэлектрического гистерезиса | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Определение электрической прочности воздуха в однородном и неоднородном электрическом поле | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение конструкций дискретных полупроводниковых приборов | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение конструкций тонкопленочных резистров | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Анализ конструкций полупроводниковых твердотельных микросхем | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Исследование входных характеристик биполярного транзистора | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Изучение элементов, компонентов и конструкци гибридных тонкопленочных интегральных микросхем | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Исследование характеристик полевого транзистора | 2015 | Методические указания | без грифа | Малый тираж Самарского Университета | 0 | |
| Основы технологии электронной компонентной базы | 2022 | Учебное пособие | Редсовет университета | Самара: Изд-во "Самарский университет" | 192 |
- 1 Способ отбраковки КМОП интегральных схем по уровням надежности, патент №2046365 получен
- 2 Способ контроля качества металлизации, патент №2383080 получен 03.03.2010
