федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования
«Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева»

    Способ локализации дефектов короткого замыкания выводов микросхем JTAG интерфейсом и устройство для его осуществления

    Год: 2018
    Авторы: Гречишников В.М. Курицкий А.А. Бутько А.Д.
    № патента: 2703493
    Приоритет заявки: 2018-12-28
    Дата публикации: 2019-10-17