Способ локализации дефектов короткого замыкания выводов микросхем JTAG интерфейсом и устройство для его осуществления

Год: 2018

Авторы: Гречишников В.М. Курицкий А.А. Бутько А.Д.

№ патента: 2703493

Приоритет заявки: 2018-12-28

Дата публикации: 2019-10-17