В СГАУ состоится вторая Международная научная школа «Комбинированные топологические и DFT-методы в прогнозировании новых материалов – 2»

С 4 по 10 июля в СГАУ состоится вторая Международная научная школа «Комбинированные топологические и DFT-методы в прогнозировании новых материалов – 2». 
 

Организаторами выступают:

- Межвузовский научно-исследовательский центр по теоретическому материаловедению;
- Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королёва;
- Комиссия по математической и теоретической кристаллографии Международного союза кристаллографов.
 

К участию в школе приглашаются практикующие исследователи, аспиранты, магистранты и студенты, в сферу научных интересов которых входят научные изыскания в кристаллохимии и материаловедении, для которых могут быть использованы современные топологические и DFT-методы. 
 

Знания и навыки, которые получат участники научной школы:
 

• общее представление о современных топологических и ТФП-методах в кристаллохимии и материаловедении, соответствующих алгоритмах, программном обеспечении, базах данных и экспертной системе;

• умение применять эти инструменты для решения задач кристаллохимии и материаловедения;

• навыки применения программного обеспечения и баз данных в своей научной работе;

• способы совместного использования топологических и ТФП-методов для разработки новых материалов и прогнозирования их физических свойств.

 

Для участия необходимо заполнить заявку 
 

Рабочий язык: английский.
 

Адрес проведения: Самара, ул. Академика Павлова, 1, кабинет Л-14, Л-15, Л-16, Л-17, Л-18.

Веб-сайт

 

Для справки
 

Основной идеей школы в 2015 г. стала проблема использования качественного и полуколичественного геометрико-топологического анализа кристаллических структур для быстрого скрининга больших баз данных и последующего точного анализа его результатов методами ТФП-моделирования. В этом году научная школа развивает тему комбинированного применения методов топологического анализа и теории функционала плотности (ТФП) для прогнозирования строения и свойств кристаллических материалов.